Deskripsi :

Jenis sample: - Thin Film, - Membran, - Advanced Materials, - Powder Materials. X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) juga dikenal sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA) yang merupakan teknik spektroskopi yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan dan komposisi atomik unsur suatu bahan. Teknik ini sangat sensitif terhadap permukaan karena sinar X-ray yang menyinari material hanya menembus kedalaman sekitar 10 nm. Pada layanan ini akan dilakukan pengujian "Wide Scan" atau "Survey Scan" yang ditandai dengan rentang energi yang luas untuk mendeteksi semua kemungkinan unsur-unsur yang terdapat pada permukaan material, dan "Narrow Scan" atau "Regional Scan" yang ditandai dengan rentang energi (binding energy - BE) tertentu yang lebih sempit sesuai dengan kebutuhan. Jenis elemen tertentu yang diinginkan diamati lebih lanjut untuk menentukan fase senyawanya dan keadaan bilangan oksidasinya dengan metode fitting dan dekonvolusi. Pengolahan data tingkat lanjut (fitting dan dekonvolusi dan pembandingan dengan Library) seperti identifikasi unsur, identifikasi fase, komposisi kimia, dekonvolusi, dan lain sebagainya dapat dilayani dengan tambahan biaya tertentu untuk proses deconvolution-nya. CATATAN: Persyaratan sampel uji: (1). Sampel uji berupa padatan; (2). Sampel uji padatan tidak bersifat higroskopis atau tidak meleleh oleh panas. Biaya tarif per sampel uji sudah termasuk biaya preparasi sampel. Pelanggan HARUS menyampaikan informasi target unsur / element yang mungkin ada. Pelanggan juga harus memilih jenis sumber X-Ray (Al atau Mg). Depth Profiling menggunakan Metode X-Ray Photoelectron Spectroscope adalah Profiling Komposisi Atom berdasarkan kedalaman dari permukaan ke bagian dalam material.

Parameter uji :

Parameter	Tarif (Rp.)
X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) (Wide Scanning dan Narrow Scanning) (saja)	1.500.000
X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) (Wide Scanning dan Narrow Scanning) (saja) + Monochromator	1.700.000
+ Analisis Kuantitatif (identifikasi dan komposisi atomik fase senyawa) dengan Teknik Fitting dan Deconvolution serta Pembandingan dengan Library.	1.000.000
Depth Profiling dengan Metode X-Ray Photoelectron Spectroscope	2.500.000