Deskripsi :

Atomic Force Microscopy adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik.

Parameter uji :

Parameter	Tarif (Rp.)
Atomic Force Microscopy (AFM) – Non Contact Mode	500.000
Atomic Force Microscopy (AFM) – Contact Mode / Lateral Force Microscopy	1.000.000
Atomic Force Microscopy (AFM) – PinPoint Mode Imaging	500.000